特許
J-GLOBAL ID：200903096881272035
飛行時間型質量分析計
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-075151
公開番号（公開出願番号）：特開2004-281350
出願日： 2003年03月19日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：
【課題】周回型飛行時間型質量分析計の利点を生かし、親イオンの質量範囲に上限がなく、イオン選別の分解能が高く、しかも、最初に選択された親イオン以外のイオンを捨てることなく、タンデム質量分析を行なうことのできる飛行時間型質量分析計を提供する。【解決手段】複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、周回軌道にイオンを打ち込むための入射手段と、周回軌道からイオンを取り出すための出射手段と、周回軌道から出射手段を介して取り出されたイオンを解離させるための解離手段と、解離手段で解離させたイオンを、質量分析するための質量分析手段とを備えた。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の扇形電場によって構成された周回軌道と、
周回軌道にイオンを打ち込むための入射手段と、
周回軌道からイオンを取り出すための出射手段と、
周回軌道から出射手段を介して取り出されたイオンを解離させるための解離手段と、
解離手段で解離させたイオンを、質量分析するための質量分析手段と
を備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
引用特許：
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