特許
J-GLOBAL ID:200903096898624440
光監視装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
志賀 正武 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-135044
公開番号(公開出願番号):特開2000-321170
出願日: 1999年05月14日
公開日(公表日): 2000年11月24日
要約:
【要約】【課題】 光ファイバの後方散乱現象の一つであるレイリー散乱光の強度が光ファイバの光損失に依存することを利用して、光ファイバ長手方向の連続的な光損失分布を観測して、自然物や人工構造物等の監視対象物の変位、変形等を監視するセンシングでは、広域に存在する多数の監視対象物の監視が必要であるが、これを実現する技術が無かったため、開発が求められていた。【解決手段】 監視対象物10の変位や変形により光ファイバ12に破断や変形を生じさせる光ファイバセンサ11の前記光ファイバ12が、通信用の光ケーブル5に収納された複数本の光ファイバ17、17a、17bの内の一部を介して光パルス試験器50と接続され、光ファイバ17aを介して入射光の戻り光の観測による光試験がなされる光監視装置1を提供する。
請求項(抜粋):
自然物や人工構造物等である監視対象物(10)の変位や変形を光により監視する光監視装置であって、監視対象物に設置されて該監視対象物の変位や変形により光ファイバ(12)に破断や変形を生じさせる光ファイバセンサ(11)の前記光ファイバが、一本の光ケーブル(5)または複数本の光ケーブルを集合してなる通信線路の複数本の光ファイバ(17、17a、17b、18)の内の一部と連続され、前記光ケーブル側の複数の光ファイバは光パルス試験器(50)に対して切替接続可能であり、前記光ファイバセンサ側の光ファイバは前記通信線路の光ファイバを介して前記光パルス試験器に対して試験光を入射可能に接続されるようになっていることを特徴とする光監視装置(1、60)。
IPC (3件):
G01M 11/00
, G01B 11/16
, G01D 21/00
FI (3件):
G01M 11/00 U
, G01B 11/16 Z
, G01D 21/00 Q
Fターム (10件):
2F065AA65
, 2F065FF00
, 2F065LL03
, 2F076BA11
, 2F076BB09
, 2F076BB11
, 2F076BD06
, 2G086CC03
, 2G086DD03
, 2G086DD05
引用特許:
出願人引用 (4件)
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光ファイバセンサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-141942
出願人:株式会社フジクラ, 応用地質株式会社, 株式会社トーエネック
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特開昭63-286739
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路肩崩壊検知システム
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-327979
出願人:日立電線株式会社
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地形変位検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-195256
出願人:日本航空電子工業株式会社
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審査官引用 (1件)
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光ファイバセンサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-141942
出願人:株式会社フジクラ, 応用地質株式会社, 株式会社トーエネック
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