特許
J-GLOBAL ID:200903096991765738

抵抗型プロセス制御装置の診断

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田中 香樹 (外1名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-566725
公開番号(公開出願番号):特表2002-523820
出願日: 1999年08月11日
公開日(公表日): 2002年07月30日
要約:
【要約】抵抗型プロセス制御装置の診断を提供する。【解決手段】プロセス制御システム(2)内の装置は、抵抗(212)を有する電気素子(210)を含む。前記素子(210)に接続された自己発熱回路(208)は、素子(210)の抵抗(212)に関係する自己発熱信号を供給する。診断回路(202)は、自己発熱信号出力の関数として診断出力を供給する。
請求項(抜粋):
電気抵抗を有する電気素子、 プロセス制御機能を実行するように、前記電気素子に接続されたプロセス制御装置回路、 前記電気素子に接続され、前記電気抵抗による前記電気素子の自己発熱指標に関する自己発熱信号を供給する自己発熱回路、 前記装置をループに接続するように、プロセス制御ループに接続された回路、および 前記自己発熱回路に接続され、前記自己発熱信号の関数として前記電気素子の健全さに関する診断出力を応答的に供給する、診断回路を含むプロセス制御システム内のプロセス制御装置。
IPC (2件):
G05B 23/02 ,  G05D 23/24
FI (2件):
G05B 23/02 T ,  G05D 23/24 X
Fターム (15件):
5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223CC01 ,  5H223EE02 ,  5H223FF06 ,  5H323AA01 ,  5H323BB17 ,  5H323GG04 ,  5H323HH02 ,  5H323KK05 ,  5H323NN03 ,  5H323QQ02 ,  5H323RR10 ,  5H323SS03 ,  5H323TT09
引用特許:
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (10件)
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