特許
J-GLOBAL ID：200903097099934610
劣化要因を測定する方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
谷 義一
, 阿部 和夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-160277
公開番号（公開出願番号）：特開2007-329767
出願日： 2006年06月08日
公開日（公表日）： 2007年12月20日
要約：
【課題】アイダイアグラムから劣化要因の特定および/または劣化量の測定を行う光信号監視技術を提供する。【解決手段】本発明によれば、光監視装置において取得したアイダイアグラムから画像認識によって劣化要因を特定することができる。本発明の一実施形態による装置は、光ネットワークの光信号からアイダイアグラムを取得するアイダイアグラム取得手段と、取得したアイダイアグラムから劣化要因に相関のあるパラメータを抽出するパラメータ抽出手段と、抽出したパラメータから劣化要因を特定し、劣化量を求める劣化量算出手段とを備える。これにより、既知のアイダイアグラムと比較する従来の方法に比べ、計算処理の負荷が小さく、劣化要因の切り分けおよび劣化量の精度の高い測定が可能となる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光ネットワークにおいて光信号の劣化要因を測定する方法であって、
前記光信号からアイダイアグラムを取得するステップと、
前記アイダイアグラムから劣化要因に相関のあるパラメータを抽出するステップと、
前記パラメータから前記劣化要因の劣化量を求めるステップと
を備えることを特徴とする方法。
IPC (3件)：
H04B 10/08
, H04B 10/02
, H04B 10/18
5K029AA03
, 5K029CC04
, 5K029KK25
, 5K102AA01
, 5K102AA46
, 5K102KA02
, 5K102LA05
, 5K102LA38
, 5K102MH32
