特許

J-GLOBAL ID：200903097127667062

屈折率分布の測定方法および測定装置

発明者： 上原 正光 ,  島田 忠克 ,  大野田 忠与 ,  市川 和弘 ,  鈴木 敏之
出願人/特許権者： 古河電気工業株式会社 ,  信越化学工業株式会社 ,  信越エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 小宮 良雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-047080
公開番号（公開出願番号）：特開平8-201221
出願日： 1994年03月17日
公開日（公表日）： 1996年08月09日
要約：

【要約】【目的】光ファイバ母材の脈理や微細構造の大きさに合わせてレーザ光の径を容易に変えることができ、測定精度の高い屈折率分布の測定方法および測定装置を提供する。【構成】屈折率分布の測定方法は、光ファイバ母材7の軸方向とは垂直な方向から光14を入射させ、その出射光17の光パターンを観察して光ファイバ母材7の屈折率分布を測定する屈折率分布の測定方法において、入射光14の光路中で入射光14の径を断続的に変化させ最適な径を選択して測定する。屈折率分布の測定装置は、光源1からの光14が空間フィルタ3を通って光ファイバ母材7の軸方向とは垂直な方向から入射する入射光学系と、該入射光学系から入射して光ファイバ母材7を通った出射光17の投影像を検出する撮像手段12とを有する屈折率分布の測定装置において、空間フィルタ3が複数の径のアパーチャーを有し、その複数の径のアパーチャーを切換えて入射光学系の光路が形成される。

請求項（抜粋）：

光ファイバ母材の軸方向とは垂直な方向から光を入射させ、その出射光の光パターンを観察して光ファイバ母材の屈折率分布を測定する屈折率分布の測定方法において、入射光の光路中で該入射光の径を断続的に変化させ最適な径を選択して測定することを特徴とする屈折率分布の測定方法。

引用特許：

審査官引用 (6件)

• 特開平1-311245
  
• 特表平4-501772
  
• 特開昭59-091334
  
• 屈折率分布測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-223131   出願人：住友電気工業株式会社
• 特開昭61-070436
  
• 特開平4-294239