特許
J-GLOBAL ID：200903097364344820

周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路

発明者：
山口 通正

山口 通正 について


出願人/特許権者：
日本電気アイシーマイコンシステム株式会社

日本電気アイシーマイコンシステム株式会社 について


代理人 (1件)： 藤巻 正憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-022019
公開番号（公開出願番号）：特開2000-221239
出願日： 1999年01月29日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：
【要約】【課題】 位相がロックされていない周波数の測定を高精度で行うことができる周波数測定用テスト回路及びそれを備えた半導体集積回路を提供する。【解決手段】 周波数測定用テスト回路には、入力された測定対象の信号を分周する分周器1と、リファレンスクロック信号の周波数を1/n分周する分周器2と、分周器2から出力された信号を反転するインバータ4と、インバータ4に直列に接続され分周器1により分周された測定対象の信号がクロック入力端子に入力される(n/2)個のフリップフロップと、各フリップフロップの出力信号の論理積をとるAND回路5と、が設けられている。更に、AND回路5からの出力信号がデータ入力端子に入力され分周器2により1/n分周された信号がクロック入力端子に入力されるフリップフロップ6が設けられている。
請求項（抜粋）：
入力された測定対象の信号を分周する分周器と、この分周器により分周された信号の周波数とリファレンスクロック信号の周波数との差に関連付けて設定されたレベルの信号を出力する検知回路と、を有することを特徴とする周波数測定用テスト回路。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ,  G01R 23/10 ,  G01R 23/15
FI (3件)：
G01R 31/28 V ,  G01R 23/10 H ,  G01R 23/15 R
Fターム (15件)：
2G029AA02 ,  2G029AB05 ,  2G029AC02 ,  2G029AC04 ,  2G029AC07 ,  2G029AD04 ,  2G029AD07 ,  2G029AE04 ,  2G029AE10 ,  2G032AA01 ,  2G032AA04 ,  2G032AA09 ,  2G032AD04 ,  2G032AG07 ,  2G032AK11
引用特許：
審査官引用 (7件)
  • 特公平7-101224
  • テスト回路及びこのテスト回路を内蔵したディジタルIC
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-005876   出願人：東芝エー・ブイ・イー株式会社, 株式会社東芝
  • 特開平3-291020
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