特許
J-GLOBAL ID：200903097860501332

自動分析装置

発明者：
浜住 由子

浜住 由子 について

, 
三村 智憲

三村 智憲 について

, 
福山 祐貴

福山 祐貴 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (2件)： 井上 学 ,  戸田 裕二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-047033
公開番号（公開出願番号）：特開2009-204448
出願日： 2008年02月28日
公開日（公表日）： 2009年09月10日
要約：
【課題】 自動分析装置において、反応過程データから得られた化学反応の理論式に基づく近似式を利用し自動的に、装置異常,試薬劣化,精度管理を連続的および単独の検査毎にチェックできる指標を提供する。【解決手段】 反応の吸光度と時間の関係を自動分析装置によって計測した反応過程データを最小二乗法で、ABS=A0+A1(1-e-kt)に近似しその結果得られた反応開始時点吸光度A0,最終反応吸光度A1,反応速度定数k,近似値と実測値との差の総和を残差として、反応状況の指標とすることを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
時系列での吸光度変化を記憶する記憶部と、 該記憶部に記憶された吸光度変化に基づき、近似式を用いて反応速度定数を求める反応速度定数算出手段と、 該反応速度定数算出手段により求められた反応速度定数の値に基づいて反応の異常の有無を判定する判定手段と、 を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
G01N 21/75 ,  G01N 35/00
FI (3件)：
G01N21/75 A ,  G01N35/00 A ,  G01N35/00 E
Fターム (32件)：
2G054AA02 ,  2G054AA07 ,  2G054AB10 ,  2G054BB10 ,  2G054CE01 ,  2G054EA04 ,  2G054EB01 ,  2G054EB02 ,  2G054EB03 ,  2G054EB05 ,  2G054EB10 ,  2G054EB11 ,  2G054FA44 ,  2G054GA03 ,  2G054GB01 ,  2G054JA01 ,  2G054JA05 ,  2G054JA11 ,  2G058CB04 ,  2G058CD04 ,  2G058CE08 ,  2G058EA02 ,  2G058EA04 ,  2G058ED03 ,  2G058FA01 ,  2G058FB03 ,  2G058FB12 ,  2G058GA03 ,  2G058GD01 ,  2G058GE02 ,  2G058GE09 ,  2G058GE10
引用特許：
出願人引用 (7件)
  • 分析装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2004-010275   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
  • 反応測定方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-344400   出願人：日本電子株式会社
  • 自動分析装置,自動分析装置を用いた分析方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-160849   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ, 株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ
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審査官引用 (7件)
  • 自動分析装置,自動分析装置を用いた分析方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-160849   出願人：株式会社日立ハイテクノロジーズ, 株式会社日立ハイテクサイエンスシステムズ
  • 異常検出システム及び異常検出方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-142841   出願人：株式会社日立製作所, 株式会社日立ハイテクノロジーズ
  • DNA解析法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-268551   出願人：株式会社日立製作所
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