特許
J-GLOBAL ID:200903097958459989

ファンクションテスト・システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐々木 功 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-108409
公開番号(公開出願番号):特開平7-318614
出願日: 1994年05月23日
公開日(公表日): 1995年12月08日
要約:
【要約】【目的】投資効果が高く、被測定プリント基板の品質向上と検査の生産性向上に寄与する、コンパクトな汎用ファンクションテスタを提供する。【構成】各種の計測器および制御器を同一寸法の薄い矩形状モジュールに形成し、各モジュールを、計測器ラックに平行に設けられた複数のスロットに任意の順序で挿入してコンパクトな計測制御モジュール群を構成する。この計測制御モジュール群を、検査プログラムを内蔵するパソコンとVMEバスを介して接続すると共に、被測定基板と測定バスで接続する。
請求項(抜粋):
被測定物を装着するための治具と、該測定物の機能を検査するために異なる検査機能を有する各種のファンクションテスタと、該ファンクションテスタの機能検査を操作する検査制御部とからなり、前記各種のファンクションテスタは、夫々同形のモジュールタイプに形成したことを特徴とするファンクションテスト・システム。
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • LSIテスタ
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-271246   出願人:横河電機株式会社
  • 特開昭59-135597

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