特許
J-GLOBAL ID：200903097980655910
2ビーム走査装置および2ビーム走査装置用の2ビーム検出方法・マルチビーム走査装置およびマルチビーム走査装置用のマルチビーム検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
樺山 亨 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-028846
公開番号（公開出願番号）：特開平10-096868
出願日： 1997年02月13日
公開日（公表日）： 1998年04月14日
要約：
【要約】【課題】2ビーム走査装置において、2つの光源を同時に点灯させた状態で、走査領域へ向かう2光束を別個に検出できる2ビーム検出方法を実現する。【解決手段】走査領域へ向かう2光束の光強度を互いに異ならせて共通の受光素子64に集光的に入射させるとともに、各光束が受光素子64の受光面64Aを通過する時間が異なるように受光素子の受光面形状64Aを設定し、受光素子64からの出力を互いに異なる複数のスレッシュレベルで矩形信号化し、その内の1つのスレッシュレベルにより矩形信号化された信号を一方の光束に対する検出信号とし、各スレッシュレベルで矩形信号化された複数の信号に対して所定の演算を行なって他方の光束に対する検出信号とする。
請求項（抜粋）：
独立した2つの光源からの光束を共通の光偏向器の偏向反射面で反射させて偏向させ、偏向された各偏向光束を共通の走査結像光学系により被走査面上に2つの光スポットとして集光させ、2走査線を同時に走査する2ビーム走査装置において、走査領域へ向かう2光束を互いに分離して検出する方法であって、走査領域へ向かう2光束の光強度を互いに異ならせて共通の受光素子に集光的に入射させるとともに、各光束が上記受光素子の受光面を通過する時間が異なるように上記受光素子の受光面形状を設定し、上記受光素子からの出力を互いに異なる複数のスレッシュレベルで矩形信号化し、その内の1つのスレッシュレベルにより矩形信号化された信号を一方の光束に対する検出信号とし、各スレッシュレベルで矩形信号化された複数の信号に対して所定の演算を行なって他方の光束に対する検出信号とすることを特徴とする2ビーム走査装置用の2ビーム検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G02B 26/10 B
, G02B 27/00 E
