特許
J-GLOBAL ID：200903098004759759

レーザー脱離イオン化質量分析法

発明者：
古田 大

古田 大 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 岡田 正広
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-313480
公開番号（公開出願番号）：特開2005-083784
出願日： 2003年09月05日
公開日（公表日）： 2005年03月31日
要約：
【課題】サンプル液を、メンブレンに滴下し直接メンブレン上で質量分析を行う場合に、メンブレン上に効率よく結晶を形成させ質量分析を行う方法、及び、サンプルがメンブレン内に保持されている場合にも、メンブレン上に効率よく結晶を形成させ質量分析を行う方法を提供する。【解決手段】メンブレン上に、サンプルを含む非浸透性のサンプル液を滴下し、メンブレン表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、サンプル液を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。サンプルが保持されたメンブレンの上に非浸透性の液体を滴下し、メンブレン表面上に前記液体の液滴を存在させ、サンプルを液体中に抽出しながら液体を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
疎水的性質を有するメンブレン上に、解析すべきサンプルを含み且つ前記メンブレンに対して非浸透性であるサンプル液を滴下し、前記メンブレンの表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、前記メンブレンの表面上において前記サンプル液を乾燥させることにより、前記メンブレン表面上及び/又は表層に前記解析すべきサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析によって前記サンプルの解析を行う、レーザー脱離イオン化質量分析法。
IPC (2件)：
G01N27/64 ,  G01N27/62
FI (3件)：
G01N27/64 B ,  G01N27/62 F ,  G01N27/62 V
引用特許：
出願人引用 (1件)
  • 分子の分析
    公報種別：公表公報   出願番号：特願平10-543310   出願人：プロテオームシステムズリミテッド
審査官引用 (2件)
引用文献：
審査官引用 (4件)
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