特許
J-GLOBAL ID:200903098195357990
ビ-ム形状補正光学系および描画装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
金井 英幸
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-001579
公開番号(公開出願番号):特開2000-199848
出願日: 1999年01月07日
公開日(公表日): 2000年07月18日
要約:
【要約】【課題】 ビーム形状の補正が容易に行えるビーム形状補正光学系を提供する。【解決手段】 一方向にのみ倍率を有する2つのアナモフィックビームエキスパンダ111、112と、それらを、その倍率方向が回転可能な形態で保持する保持部121、122によって、ビーム形状補正光学系を構成する。
請求項(抜粋):
第1入射端面を有し、その第1入射端面に第1所定方向から入射された平行ビームの径を、前記第1所定方向と直交する第1倍率方向にのみm倍する第1アナモフィックビームエキスパンダと、この第1アナモフィックビームエキスパンダを、前記第1入射端面を通り、前記第1所定方向と平行な軸である第1回転軸の周りで回転可能な形態で保持する第1保持部と、第2入射端面を有し、その第2入射端面に第2所定方向から入射された平行ビームの径を、前記第2所定方向と直交する第2倍率方向にのみn倍する第2アナモフィックビームエキスパンダと、この第2アナモフィックビームエキスパンダを、前記第2入射端面を通り、前記第2所定方向と平行、且つ、前記第1回転軸と同軸に設定された第2回転軸の周りで回転可能な形態で保持する第2保持部とを備えることを特徴とするビーム形状補正光学系。
IPC (5件):
G02B 13/08
, B41J 2/44
, G02B 3/06
, G02B 13/12
, G02B 26/10
FI (5件):
G02B 13/08
, G02B 3/06
, G02B 13/12
, G02B 26/10 D
, B41J 3/00 D
Fターム (33件):
2C362AA21
, 2C362AA26
, 2C362AA28
, 2C362AA29
, 2C362AA35
, 2C362AA37
, 2C362AA38
, 2C362AA40
, 2C362AA47
, 2C362BA86
, 2H045AA01
, 2H045CA67
, 2H045CB02
, 2H045CB03
, 2H045DA02
, 2H045DA04
, 2H045DA22
, 2H087KA19
, 2H087LA26
, 2H087LA28
, 2H087PA04
, 2H087PA17
, 2H087PB04
, 2H087QA02
, 2H087QA05
, 2H087QA13
, 2H087QA22
, 2H087QA25
, 2H087QA38
, 2H087QA41
, 2H087QA46
, 2H087RA07
, 2H087RA41
引用特許:
前のページに戻る