特許
J-GLOBAL ID:200903098417972957

物性測定用プローブ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 村瀬 一美 ,  井口 恵一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-316770
公開番号(公開出願番号):特開2004-150960
出願日: 2002年10月30日
公開日(公表日): 2004年05月27日
要約:
【課題】被測定物表面の凹凸の有無にかかわらず複素誘電率の測定を正確に行う。また、被測定物に適した電気長に調整可能とする。【解決手段】物性測定用プローブ31は、被測定物の複素誘電率を測定して当該測定された複素誘電率に基づいて被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装置に用いられるものであり、芯線状の内部電極311と該内部電極311を中心軸として同軸状に配された外部電極312とを有し、内部電極311の軸方向に対して斜めとなるように端面313が形成されている。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
被測定物の複素誘電率を測定して当該測定された複素誘電率に基づいて前記被測定物の含水量等の物性値を測定する物性測定装置に用いられ、芯線状の内部電極と該内部電極を中心軸として同軸状に配された外部電極とを有する物性測定用プローブにおいて、前記内部電極の軸方向に対して斜めとなるように端面を形成したことを特徴とする物性測定用プローブ。
IPC (2件):
G01N22/00 ,  G01N22/04
FI (4件):
G01N22/00 F ,  G01N22/00 S ,  G01N22/00 Y ,  G01N22/04 Z
引用特許:
審査官引用 (4件)
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