特許
J-GLOBAL ID：200903098715668217
エアロゲルを用いた陽電子放出断層撮像装置及びエアロゲルの製造方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
西川 惠清
, 森 厚夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-113485
公開番号（公開出願番号）：特開2005-300232
出願日： 2004年04月07日
公開日（公表日）： 2005年10月27日
要約：
【課題】 光電効果事象をコンプトン散乱事象から有効に識別し、光電効果により発生した荷電粒子による発光(チェレンコフ光)のみを検出することで、位置精度良く癌細胞などの異常組織の位置を発見することができ、しかもデータ収集及び解析機構を簡素化することができる陽電子放出断層撮像装置を提供する。【解決手段】 γ線検出手段が被測定物の周囲に複数個設けられ、被測定物に投与された陽電子過剰核によって被測定物中で発生したγ線を、各γ線検出手段で検出して、被測定物内に存在する異常組織の位置を検出する陽電子放出断層撮像装置に関する。γ線検出手段を、屈折率が1.155より大きく1.25未満であるエアロゲルと、このエアロゲルを通過する電子によって生じるチェレンコフ光を検出する検出器を備えて形成する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
γ線検出手段が被測定物の周囲に複数個設けられ、被測定物に投与された陽電子過剰核によって被測定物中で発生したγ線を、各γ線検出手段で検出して、被測定物内に存在する異常組織の位置を検出する陽電子放出断層撮像装置において、γ線検出手段が、屈折率が1.155より大きく1.25未満であるエアロゲルと、このエアロゲルを通過する電子によって生じるチェレンコフ光を検出する検出器を備えて形成されたものであることを特徴とする陽電子放出断層撮像装置。
IPC (4件)：
G01T1/161
, C09K11/06
, G01T1/22
, H01L31/09
G01T1/161 A
, G01T1/161 C
, C09K11/06
, G01T1/22
, H01L31/00 A
2G088EE02
, 2G088FF04
, 2G088FF07
, 2G088GG25
, 2G088JJ37
, 2G088KK15
, 2G088KK35
, 5F088AA20
, 5F088BB07
, 5F088LA07
