特許
J-GLOBAL ID:200903098784923040

形状測定機及びその測定子

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-220205
公開番号(公開出願番号):特開2009-053052
出願日: 2007年08月27日
公開日(公表日): 2009年03月12日
要約:
【課題】有機汚染については有機物の分解により表面のセルフクリーニングで洗浄を省くと共に、親水性の制御により洗浄を必要とする場合でも容易に汚れを除去可能とする。【解決手段】測定子124を被測定物102に直接接触させて、その形状測定を行う形状測定機100において、前記測定子124の先端表面に、光触媒膜124bを有する。前記形状測定機100は、前記光触媒膜124bを活性化させる光源を備えることができる。前記光触媒膜124bは、金属酸化物を有することができる。前記光触媒膜124bは、少なくとも炭素又は窒素のいずれかを含むことができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
測定子を被測定物に直接接触させて、その形状測定を行う形状測定機において、 前記測定子の先端表面に、光触媒膜を有していることを特徴とする形状測定機。
IPC (1件):
G01B 5/016
FI (1件):
G01B5/016
Fターム (7件):
2F062AA51 ,  2F062CC02 ,  2F062EE01 ,  2F062EE62 ,  2F062HH01 ,  2F062HH13 ,  2F062HH50
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 洗浄装置付測定機
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平10-201957   出願人:株式会社ミツトヨ

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