特許

J-GLOBAL ID：200903098841359831

飛行時間型質量分析装置

発明者： 石原 盛男
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
代理人 (1件)： 菅井 英雄 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-214385
公開番号（公開出願番号）：特開平11-054084
出願日： 1997年08月08日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：

【要約】【課題】 飛行時間型質量分析装置において、スペクトルの測定を短時間に効率よく行い、しかもイオン化した試料を無駄なく利用する。【解決手段】 パルス発生部5からは適宜なパルス列を発生させる。演算部4では、検出器3からの合成スペクトルをフーリエ変換してW(ω)を求めると共に、パルス発生部5からのパルス列の信号をフーリエ変換してHn(ω)を求めY(ω)=W(ω)/Hn(ω)の演算を行い、その演算結果を逆フーリエ変換する処理を行う。

請求項（抜粋）：

イオン源と、イオン源からイオンを出射させるための適宜なパルス列を発生するパルス発生手段と、イオンを検出する検出器と、検出器から出力されるスペクトルと、パルス発生手段から発生されるパルス列の信号とに基づいて畳み込みの逆演算を行うことによって、単発の出射パルスによって得られるスペクトルを求める演算手段とを備えることを特徴とする飛行時間型質量分析装置。

IPC (4件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10

FI (5件)：

H01J 49/40 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 E ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 飛行時間型質量分析計および方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-335571   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー