特許
J-GLOBAL ID：200903099114607136
信号波形測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊東 忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-281458
公開番号（公開出願番号）：特開平7-134147
出願日： 1993年11月10日
公開日（公表日）： 1995年05月23日
要約：
【要約】【目的】 電気光学効果を利用して電気信号波形を計測する信号波形測定装置に関し、各部品を小型、かつ、容易に位置決め可能とする信号波形測定装置を提供することを目的とする。【構成】 光源1から出力されたレーザ光は偏光ビームスリッタ32を透過し、1/2 波長板34に供給され、-45°設定された後、ファラデー回転子35に供給される。ファラデー回転子35では1/2 波長板34からの光を+45°施光させ、偏光ビームスリッタ33に供給する。偏光ビームスリッタ33はファラデー回転子35からの光を透過して電気光学結晶4に供給する。電気光学結晶4からの反射光は偏光ビームスプリッタ33に供給され、S偏光成分が反射され、P偏光成分は透過する。透過したP偏光成分はファラデー回転子35で+45°施光された後、1/2波長板34に供給され、さらに-135°施光され、-90°施光され、S偏光方向に施光された後、偏光ビームスプリッタ32に供給され、偏光ビームスプリッタ32で反射され出力される。
請求項（抜粋）：
所定の方位角の偏光を透過させると共に、該偏光の方位角に直交する方位角の偏光を反射する二つの偏光分離手段(32,33)を入射光の方位角を所定角度回転させる回転手段(35)を挟んで配置し、光源(1)からの光を透過させ、印加電圧に応じて偏光状態を変移する電気光学結晶部(4)に供給し、該電気光学結晶部(4)からの反射光を該二つの偏光分離手段(32,33)により方位角が互いに直交する成分に分離することにより該電気光学結晶部(4)の偏光状態を検出して該印加電圧を測定する信号波形測定装置において、前記二つの偏光分離手段(32,33)の間に前記偏光分離手段(32,33)により分離出力される光が同一方向となるように前記二つの偏光分離手段(32,33)の間の方位角の回転を前記回転手段(35)の回転方向とは逆方向に所定角度回転させるべく制御する回転制御手段(34)を有することを特徴とする信号波形測定装置。
IPC (6件)：
G01R 15/24
, G01J 4/04
, G01R 13/34
, G01R 19/00
, G01R 31/319
, G02F 1/03 505
G01R 15/07 C
, G01R 31/28 R
