特許
J-GLOBAL ID:200903099152279789

測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 酒井 伸司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-158499
公開番号(公開出願番号):特開平11-337597
出願日: 1998年05月22日
公開日(公表日): 1999年12月10日
要約:
【要約】【課題】 測定システムのコストを低減することが可能な測定装置を提供することを主目的とする。【解決手段】 入力信号に基づいて測定した測定値を積算演算することにより積算測定値を測定する測定装置1において、互いに独立した複数の積算期間にそれぞれ対応する積算測定値を測定可能に構成されている。
請求項(抜粋):
入力信号に基づいて測定した測定値を積算演算することにより積算測定値を測定する測定装置において、互いに独立した複数の積算期間にそれぞれ対応する前記積算測定値を測定可能に構成されていることを特徴とする測定装置。
IPC (2件):
G01R 22/00 110 ,  G01R 22/00 120
FI (2件):
G01R 22/00 110 J ,  G01R 22/00 120 Z
引用特許:
審査官引用 (5件)
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