特許

J-GLOBAL ID：200903099202957651

分析装置

発明者： 星島 光博
出願人/特許権者： アークレイ株式会社
代理人 (4件)： 吉田 稔 ,  田中 達也 ,  塩谷 隆嗣 ,  古澤 寛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-362419
公開番号（公開出願番号）：特開2005-127802
出願日： 2003年10月22日
公開日（公表日）： 2005年05月19日
要約：

【課題】 分析用具に対して何らの変更も加えることなく、外部光の影響を抑制しつつ、測定精度を向上させる。【解決手段】 光学的手法を利用した分析装置1において、分析用具2を保持するためのホルダ部33と、ホルダ部33に分析用具2を保持させるときに利用される開口部36を有する筐体3と、開口部36を覆う状態と覆わない状態とを選択可能な蓋4と、を備えた。好ましくは、ホルダ部33は、蓋4が開口部36を覆う状態から覆わない状態に変化するときに開口部36に接近する一方、蓋4が開口部36を覆わない状態から覆う状態に変化するときに開口部36から離間するように構成される。【選択図】 図2

請求項（抜粋）：

光学的手法を利用して試料の分析を行うように構成された分析装置であって、 分析用具を保持するためのホルダ部と、 上記ホルダ部に上記分析用具を保持させるときに利用される開口部を有する筐体と、 上記開口部を覆う状態と覆わない状態とを選択することが可能な蓋と、 を備えたことを特徴とする、分析装置。

IPC (4件)：

G01N21/01 ,  A61B5/145 ,  G01N21/27 ,  G01N33/52

FI (4件)：

G01N21/01 B ,  G01N21/27 Z ,  G01N33/52 Z ,  A61B5/14 310

Fターム (21件)：

2G045AA13 ,  2G045AA16 ,  2G045CA26 ,  2G045DA31 ,  2G045FA11 ,  2G045FB19 ,  2G045JA07 ,  2G059AA03 ,  2G059BB13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE13 ,  2G059GG02 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM12 ,  2G059NN01 ,  4C038KK10 ,  4C038KL01 ,  4C038KL07 ,  4C038KX04 ,  4C038KY00

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 引圧発生装置およびそれを用いた検体分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-231506   出願人：株式会社京都第一科学