特許
J-GLOBAL ID：200903099215096043
レーザ回折式粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-043397
公開番号（公開出願番号）：特開平9-236533
出願日： 1996年02月29日
公開日（公表日）： 1997年09月09日
要約：
【要約】【課題】 レーザ照射部分へ供給する粉体試料の量を安定させる。【解決手段】 試料槽1内で、粉体試料Sを載せたふるい4を振動手段5で振動させるとともに、この粉体試料Sを落下方向に押圧し、ふるい落とされた粉体試料Sを、エジェクタを介して空気中に飛翔させ、この飛翔した試料Sにレーザ光を照射して試料の回折/散乱光を検出し、粒度分布を測定する。
請求項（抜粋）：
粉体試料を載せたふるい手段を振動させ、ふるい落とされた粉体試料を、搬送気流によって空気中に噴射し、この噴射試料にレーザ光を照射してレーザ光の試料粒子による回折/散乱光を検出するレーザ回折式粒度分布測定装置において、前記ふるい手段に載せた粉体試料を落下方向に押圧する押圧手段を同ふるい手段に備えたことを特徴とするレーザ回折式粒度分布測定装置。
FI (2件)：
G01N 15/02 A
, G01N 15/02 Z
