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J-GLOBAL ID：201002000363626885   整理番号：80A0093111

イオンマイクロプローブ質量分析法と透過式電子顕微鏡法によるセレン合金薄膜の定量分析

Quantitative analysis of Se alloy thin films by ion-microprobe mass analysis and transmission electron microscopy.

著者 (2件)： LaFORCE R W (Xerox Corp., NY) ,  JOHNSON J K (Xerox Corp., NY)
資料名： Proc Annu Conf Microbeam Anal Soc  (Microbeam Analysis)
巻： 14th  ページ： 354-360  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0776B  ISSN： 0278-1727  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子マイクロプローブ法(EMPA)は0.1%以上の成分の定量...

シソーラス用語： セレン ,...

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タイトルに関連する用語 (7件)： イオンマイクロプローブ ,  質量分析法 ,  透過 ,  電子顕微鏡法 ,  セレン ,  合金薄膜 ,  定量分析