文献
J-GLOBAL ID:201002017674698863 整理番号:78A0008369
三値デバイスの信頼性システムに関する文献展望
Literature survey on three-state device reliability systems.
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著者 (1件):
DHILLON B S
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名寄せID(JGPN) 201550000037403914 ですべてを検索
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資料名:
Microelectron Reliab (Electronics Reliability & Microminiaturization)
Microelectron Reliab について
JST資料番号 C0530A ですべてを検索
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巻:
16
号:
5
ページ:
601-602
発行年:
1977年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
CODEN:
MCRLA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)
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