文献

J-GLOBAL ID：201002021546939103   整理番号：80A0076140

走査電子顕微鏡でのPN接合の研究において用いられる定理の任意形状,任意不均質物質への拡張

Extension of a theorem used in the investigation of P-N junctions with the scanning electron microscope to arbitrary geometries and arbitrarily inhomogeneous material.

著者 (1件)： Von ROOS O (California Inst. Technology)
資料名： Appl Phys Lett  (Applied Physics Letters)
巻： 35  号： 5  ページ： 408-409  発行年： 1979年 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： PN接合に電子あるいはイオンビームにより作られる短絡回路I<...

シソーラス用語： PN接合 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=80A0076140&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=H0613A") }}

タイトルに関連する用語 (7件)： 走査電子顕微鏡 ,  PN接合 ,  研究 ,  定理 ,  不均質 ,  物質 ,  拡張