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J-GLOBAL ID：201002030334348651   整理番号：80A0111664

CODECは市販の試験システムで試験が可能である

CODEC’s can be tested on a commercially available test system.
著者 (2件)：
LORANGER M

LORANGER M について

(Fairchild Test Systems Group, California)

Fairchild Test Systems Group, California について

, 
MURANAGA K

MURANAGA K について

(Fairchild Test Systems Group, California)

Fairchild Test Systems Group, California について


資料名：
Dig Pap Semicond Test Conf  (Digest of Papers. Semiconductor Test Conference)

Dig Pap Semicond Test Conf について


巻： 1979  ページ： SESSION 10,226-233  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0211B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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市販のCODECチップのデバイス試験プログラムを作る実際の事...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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変復調器

変復調器 について

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タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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CODEC

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, 
試験システム

試験システム について

, 
試験

試験 について


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