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J-GLOBAL ID：201002030834120886   整理番号：80A0172714

電子ミクロプローブによる試料の特性化のために有効な統計的変数

Statistical parameters useful for characterizing samples by electron microprobe.

著者 (2件)： FRICKE W G Jr (Alcoa Lab., PA) ,  GRAY G (Alcoa Lab., PA)
資料名： Proc Annu Conf Microbeam Anal Soc  (Microbeam Analysis)
巻： 14th  ページ： 218-220  発行年： 1979年 
JST資料番号： E0776B  ISSN： 0278-1727  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標準の統計的技術は方法的には解決困難な試料について議論する際...

シソーラス用語： 電子プローブX線分析 ,...

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タイトルに関連する用語 (6件)： 電子 ,  ミクロプローブ ,  試料 ,  特性化 ,  統計 ,  変数