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J-GLOBAL ID：201002038715094320   整理番号：80A0109297

高精度計測法へのマイクロデンシトメータの応用

Use of microdensitometers as a basis for highly accurate metrology.

著者 (2件)： CAULFIELD H J (Aerodyne Research, Inc., Massachusetts) ,  KRYGER D L (Aerodyne Research, Inc., Massachusetts)
資料名： Opt Eng  (Optical Engineering)
巻： 18  号： 5  ページ： 483-485  発行年： 1979年 
JST資料番号： B0577B  ISSN： 0036-1860  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 従来のマイクロデンシトメータの原理を用いて,二次元物体をより...

シソーラス用語： 光学的測定 ,...

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タイトルに関連する用語 (3件)： 計測法 ,  デンシトメータ ,  応用