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J-GLOBAL ID:201002039200353940   整理番号:80A0196664

X線全外部反射-Bragg回折法 GaAs-Al界面の構造研究

X-ray total-external-reflection-Bragg diffraction: A structural study of the GaAs-Al interface.
著者 (3件):
資料名:
巻: 50  号: 11 Pt 1  ページ: 6927-6933  発行年: 1979年 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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X線波長でもなめらかな面で全反射が生ずる。この原理と従来のB...
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