X線全外部反射-Bragg回折法  GaAs-Al界面の構造研究

MARRA W C; EISENBERGER P; CHO A Y

文献

J-GLOBAL ID：201002039200353940 整理番号：80A0196664

X線全外部反射-Bragg回折法 GaAs-Al界面の構造研究

X-ray total-external-reflection-Bragg diffraction: A structural study of the GaAs-Al interface.

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資料名：
巻： 50 号： 11 Pt 1 ページ： 6927-6933 発行年： 1979年
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

X線波長でもなめらかな面で全反射が生ずる。この原理と従来のB...

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