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J-GLOBAL ID：201002057104871377   整理番号：80A0080445

Ne(I)(73.6nm)光電子分光法で決定したNO⁺,X¹Σ⁺(v′=0〜34)←NO,X²Π(v′′=0)遷移に対するイオン化エネルギーとNOイオン基底状態の分子定数

Ionization energy values for the transitions NO⁺,X¹Σ⁺(υ’=0-34)←NO,X²Π(υ”=0) and molecular constants of nitric oxide ground ionic state, determined by Ne(I)(73.6nm) photoelectron spectroscopy.

著者 (5件)： NATALIS P (Univ. Liege, Belgium) ,  COLLIN J E (Univ. Liege, Belgium) ,  DELWICHE J (Univ. Liege, Belgium) ,  CAPRACE G (Univ. Liege, Belgium) ,  HUBIN M-J (Univ. Liege, Belgium)
資料名： J Electron Spectrosc Relat Phenom  (Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena)
巻： 17  号： 6  ページ： 421-423  発行年： 1979年 
JST資料番号： D0266C  ISSN： 0368-2048  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 前報ではNe(I)共鳴線を用いてNOの光電子スペクトルを測定...

シソーラス用語： 一酸化窒素 ,...

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タイトルに関連する用語 (8件)： Ne ,  光電子分光法 ,  NO ,  遷移 ,  イオン化エネルギー ,  イオン ,  基底状態 ,  分子定数