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J-GLOBAL ID：201002206776907154   整理番号：10A0548471

レーザースペックルパターンをプラスチックIDカード表面に用いた人工物メトリクス

An artifact-metrics which utilizes laser speckle patterns for plastic ID card surface

著者 (4件)： YAMAKOSHI Manabu (National Printing Bureau, Kanagawa, JPN) ,  YAMAKOSHI Manabu (California Polytechnic State Univ., CA, USA) ,  RONG Xiaoying (California Polytechnic State Univ., CA, USA) ,  MATSUMOTO Tsutomu (Yokohama National Univ., Kanagawa, JPN)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 7618  ページ： 76180B.1-76180B.8  発行年： 2010年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： カード表面にレーザースペックルパターンを用いたプラスチックIDカード用人工物メトリックシステムを提案し,照合性能に対する影響因子を調査した。表面スペックルパターンは表面の微視的形状に依存しないため人工物メトリクスを用いれば登録済データとの照合により自動的に認証できる。提案システムはレーザー,CMOSカメラ,マッチングアルゴリズムからなる。照合精度を改善するためにIDカード100枚を用いた実験を行い,レーザ光の幅と入射角,アパーチャサイズ,カメラの撮影角度を変更して照合精度に対する影響を調査した。その結果,アパーチャサイズとレーザー光の幅が精度に影響を与えることが判明した。適切な試験条件で,データサイズ16平方ピクセルにおける誤り率0.1%を達成した。

シソーラス用語： *スペックル ,  *画像認識 ,  パターンマッチング ,  精度 ,  誤り率 ,  ビデオカメラ ,  幅
準シソーラス用語： CMOSカメラ ,  ビーム幅 ,  *レーザスペックル ,  画像照合 ,  *画像認証 ,  認識精度

分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (5件)： レーザー ,  スペックルパターン ,  プラスチック ,  IDカード ,  人工物