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J-GLOBAL ID：201002207091228382   整理番号：10A1123309

MLCCにおける誘電体層数による内部応力の発生と誘電特性への影響

Evolution of Internal Stress and Influence on Dielectric Properties by Number of Dielectric Layers in MLCC

著者 (8件)： YOKOMIZO Satoshi (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  HOSHINA Takuya (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TAKEDA Hiroaki (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TANIGUCHI Katsuya (Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN) ,  MIZUNO Youichi (Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN) ,  CHAZONO Hirokazu (Taiyo Yuden Co. Ltd., Gunma, JPN) ,  SAKURAI Osamu (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TSURUMI Takaaki (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： Key Engineering Materials  (Key Engineering Materials)
巻： 445  ページ： 31-34  発行年： 2010年 
JST資料番号： D0744C  ISSN： 1013-9826  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 積層セラミックコンデンサ(MLCC)の誘電体層数による内部応力と誘電特性への影響を調べた。内部Ni電極と誘電体層厚さは各々1μmと2μm,誘電体層数10~100のMLCCモデルについて有限要素法で内部残留応力を調べた。内部残留応力は誘電体層数と共に増加した。電界に垂直な応力σ₁₁とσ₂₂は100MPa以上の圧縮応力,電界に平行な応力σ₃₃は50MPa以下の引張応力を示した。誘電率は誘電体層数と共に増加した。圧縮応力を加えた場合,いずれの層数でも誘電率は圧縮応力の減少により減少した。

シソーラス用語： *磁器コンデンサ ,  *積層形コンデンサ ,  *誘電体 ,  *層 ,  *内部応力 ,  *残留応力 ,  誘電性 ,  有限要素法 ,  電場 ,  圧縮応力 ,  引張応力 ,  誘電率
準シソーラス用語： *MLCC ,  電界 ,  誘電特性

分類 (2件)： LCR部品  (NA05030D) ,  誘電体一般  (BM05010F)

タイトルに関連する用語 (3件)： MLCC ,  内部応力 ,  誘電特性