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J-GLOBAL ID：201002209256040530   整理番号：10A0135367

同期システムにおける干渉の解析

An analysis of interference in synchronous systems

著者 (2件)： YOSHIMURA Tsutomu (High Frequency and Optical Devices Works, Mitsubishi Electric Corp.) ,  IWATA Atsushi (Graduate School of Advanced Sciences of Matter, Hiroshima Univ.)
資料名： IEICE Electronics Express (Web)  (IEICE Electronics Express (Web))
巻： 1  号： 15  ページ： 465-471 (J-STAGE)  発行年： 2004年 
JST資料番号： U0039A  ISSN： 1349-2543  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 同期システムにおける干渉の影響を検討した。同期システムにおける干渉現象に対する新しい洞察を示した。解析によれば,発振器への小さな摂動は,その他の発振システムとの結合を通しての正帰還により高められることが可能である。これは,熱雑音により引起される固有の位相誤差が,たとえ外部雑音が無くても干渉により多量のジッタへと進むことを意味する。さらに,これは準同期システムジッタの発生と周波数差の間の関係も明らかにする。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *ジッタ ,  位相雑音 ,  干渉雑音 ,  MOS集積回路 ,  CMOS構造 ,  周波数同期 ,  位相同期 ,  *位相同期ループ ,  VCO【発振器】 ,  MOS構造

分類 (1件)： 電子回路一般  (NC05010N)

引用文献 (5件)：

• [1] B. Razavi, “A study of injection locking and pulling in oscillators, ” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 39, no. 9, pp. 1415-1424, Sept. 2004.
• [2] W. J. Dally and J. W. Poulton, Digital Systems Engineering, Cambridge University Press, UK, 1998.
• [3] M. Nagata, J. Nagai, K. Hijikawa, T. Morie, and A. Iwata, “Physical Design Guides for Substrate Noise Reduction in CMOS Digital Circuits, ” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 36, no. 3, pp. 539-549, March 2001.
• [4] A. Hajimiri and T. H. Lee, “A general theory of phase noise in electrical oscillators, ” IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 33, no. 2, pp. 179-194, Feb. 1998.
• [5] W. F. Egan, <i>Phase-Lock Basics</i>, John Wiley & Sons, Inc., NY, 1998.

タイトルに関連する用語 (2件)： 干渉 ,  解析