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J-GLOBAL ID:201002212042894354   整理番号:10A0994525

ラボ用硬X線光電子分光装置の開発

Development of Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy for Laboratory Use
著者 (9件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 487-492 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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硬X線電子分光法(HXPS)は,励起源として高運動エネルギーのX線を利用するため,高運動エネルギーの光電子ピークを選択することで光電子の脱出深さが大きくなり,敏感な測定が期待できる。HXPSの問題点として,励起源のエネルギーが高くなるとイオン化断面積が指数的に減少することがあげられる。そのために,現行のHXPSはSPring-8等のHXP第3世代放射光施設の高エネルギーX線の使用で実現しており,その利用可能性は低い。著者等は,実験室においても実用的なスループットとエネルギー分解能で測定できるラボ用HXPSの開発を行っている。本稿ではHXPS装置を構成するもっとも重要なコンポーネントである単色化Cr Kα集束X線源と広取込立体角対物レンズの開発と基本性能および応用例を紹介した。20kVビーム電圧でマイクロ集束電子ビームによって励起したCr Kα X線を楕円型湾曲結晶モノクロメーターで回折し,試料に焦点化させた。最小9.9μm直径のX線スポットサイズが達成され,0.56eVのエネルギー分解を得た。極大許容角度は70°,角分解度は0.54°であった。本装置により,20nm以上の薄膜物質および10nm以上の多層薄膜の深さ情報の取得が可能になった。
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分類 (2件):
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分光法と分光計一般  ,  電子分光スペクトル 
タイトルに関連する用語 (3件):
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