文献

J-GLOBAL ID：201002213939396752   整理番号：10A0235752

走査ゲート顕微鏡で測定した複数チャンネル カーボン・ナノチューブ電界効果トランジスタの電気特性

Electrical Properties of Carbon Nanotube Field-Effect Transistors with Multiple Channels Measured by Scanning Gate Microscopy

著者 (4件)： OKIGAWA Yuki (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  KISHIMOTO Shigeru (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  OHNO Yutaka (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  MIZUTANI Takashi (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 49  号： 2,Issue 2  ページ： 02BD02.1-02BD02.4  発行年： 2010年02月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 複数のCNTチャンネルを有するカーボン・ナノチューブ電界効果トランジスタ(CNT-FET)の電気特性を走査プローブチップを局所ゲートとして使う走査ゲート顕微鏡(SGM)で研究した。 SGMにより個々のCNTチャンネルの電気特性の違いの識別が可能だった。スポット様SGMイメージは,CNT-FETの電流変調となる金属的CNTで形成したキャリヤーに対する障壁に帰された。また,金属的CNTの障壁がCNT-FETsのambipolar挙動となることを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *カーボンナノチューブ ,  *FET【トランジスタ】 ,  ゲート【半導体】 ,  電気的性質 ,  走査電子顕微鏡 ,  プローブ

分類 (2件)： 炭素とその化合物  (YB02060D) ,  トランジスタ  (NC03070N)

引用文献 (24件)：

• S. Rosenblatt, H. Lin, V. Sazonova, S. Tiwari, and P. L. McEucn: Appl. Phys. Lett.87(2005)153111.
• A. Javey, J. Guo, D. B. Farmaer, Q. Wang, E. Yenilmez, R. G. Gordon, M. Lundstrom, and H. Dai: Nano Lett.4(2004)1319.
• C. Kocabas, S. Dunham, Q. Cao, K. Cimino, X. Ho, H. S. Kim, D. Dawson, J. Payne, M. Stuenkel, H. Zhang, T. Banks, M. Feng, S. V. Rotkin, and J. A. Rogers: Nano Lett.9(2009)1937.
• E. S. Snow, P. M. Campbell, M. G. Ancona, and J. P. Novak: Appl. Phys. Lett.86(2005)033105.
• Q. Cao, H. S. Kim, N. Pimparkar, J. P. Kulkarni, C. Wang, M. Shim, K. Roy, M. A. Alam, and J. A. Rogers: Nature 454(2008)495.

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査ゲート顕微鏡 ,  複数チャンネル ,  カーボン ,  ナノチューブ ,  電界効果トランジスタ ,  電気特性