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J-GLOBAL ID：201002219731503251   整理番号：10A0035228

プリント配線基板内蔵用高容量薄膜コンデンサの開発-XAFS測定による高濃度ゾルゲル法でのBaTiO₃低温結晶化挙動解析-

著者 (6件)： 藤吉国孝 (福岡県工技セ) ,  牧野晃久 (福岡県工技セ) ,  有村雅司 (福岡県工技セ) ,  山下洋子 (福岡県工技セ) ,  下岡弘和 (九州工大) ,  岡島敏浩 (九州シンクロトロン光研究セ)
資料名： 福岡県工業技術センター研究報告
号： 19  ページ： 25-28  発行年： 2009年10月 
JST資料番号： G0843B  ISSN： 0916-8230  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 我々はこれまで,高濃度ゾルゲル法と呼ばれる独自の方法を用い,室温程度の温度でチタン酸バリウム(BaTiO₃)のナノ結晶粒子を合成してきた。本研究では,高濃度ゾルゲル法で合成したチタン酸バリウムナノ粒子と市販のチタン酸バリウム粉末のTiK端とBaL_III端のXAFS(X-ray absorption fine structure)測定を実施し,高濃度ゾルゲル法により低温でチタン酸バリウムが結晶化する際の挙動について検討した。その結果,ナノ粒子の結晶化の進行に伴い,TiK端のXANES(X-ray Absorption Near Edge Structure)スペクトルとBaL_III端のEXAFS(Extended X-ray Absorption Fine Structure)スペクトルが,市販品チタン酸バリウム粉末のスペクトル形状に近づいた。高濃度ゾルゲル法で合成した粒子が市販品と同様のスペクトル形状を示すことが判った。(著者抄録)

シソーラス用語： *チタン酸バリウム ,  強誘電体 ,  *ナノ粒子 ,  *ゾル-ゲル法 ,  *結晶化 ,  XANES ,  EXAFS ,  薄膜コンデンサ ,  プリント基板 ,  溶液成長 ,  ゲル ,  セラミック

分類 (2件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

引用文献 (2件)：

• 桑原誠, 倉田奈津子, 緒方道子, 山下洋子, 有村雅司: セラミックス, 36巻 (6号), pp. 412-416(2001)
• H. Shimooka and M.Kuwahara: Journal of the Ceramic Society of Japan, 105[9], pp. 811-814(1997)

タイトルに関連する用語 (9件)： プリント配線基板 ,  薄膜コンデンサ ,  開発 ,  XAFS ,  高濃度 ,  ゾルゲル法 ,  BaTiO3 ,  低温結晶化 ,  挙動解析