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J-GLOBAL ID：201002221680222125   整理番号：10A1114190

赤外分光測定法-基礎と最新手法 第II部 各種測定法 第5回 7A.正反射測定法

Experimental Infrared Spectroscopy Fundamentals and Practical Methods 7A. Reflection Measurements at Normal Incidence

著者 (1件)： 長谷川健 (東京工大 大学院理工学研究科)
資料名： 分光研究  (Journal of the Spectroscopical Society of Japan)
巻： 59  号： 5  ページ： 237-240  発行年： 2010年10月15日 
JST資料番号： F0007A  ISSN： 0038-7002  CODEN： BUKKAT  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 赤外測定の口座の一環として正反射測定法を解説した。測定の光学系,反射率を求めるためのバックグラウンド補正の方法,n回反射型装置を使用した場合の真の反射率スペクトルを求めるためのFresnel反射の式とKramers-Kronig(KK)式を用いた補正の方法を解説した。この方法によるポリエチレンの反射スペクトル測定例を示した。

シソーラス用語： *赤外分光法 ,  *反射スペクトル ,  光学系 ,  補正 ,  Kramers-Kronig関係式 ,  反射率

分類 (1件)： 赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般  (BM08061U)

引用文献 (6件)：

• HECHT, E. Optics. 1990, 95
• TOLL, J. S. Phys. Rev. 1956, 104, 1760
• BARDWELL, J. A. J. Chem. Phys. 1985, 83, 5468
• PETERSON, C. W. J. Opt. Soc. Am. 1973, 63, 1238
• YAMAMOTO, K. Appl. Spectrosc. 1995, 49, 639

タイトルに関連する用語 (4件)： 赤外分光 ,  測定法 ,  基礎 ,  手法