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J-GLOBAL ID：201002225911068456   整理番号：10A0487968

電磁接触器に及ぼす瞬時電圧低下の影響-瞬時電圧低下特性のための新しいパラメータ-

Affect of Voltage Sags on Electro-magnetic Contactor -A New Parameter for Sag Characteristics-

著者 (5件)： IYODA Isao (Osaka Electro-Communication Univ.) ,  ANDO Yoshitaro (Enegate Co. Ltd.) ,  POUNYAKHET Sompathana (Kyushu Inst. of Technol.) ,  HIRATA Masaya (Osaka Prefectural Coll. of Technol.) ,  ISE Toshifumi (Osaka Univ.)
資料名： 電気学会論文誌 B  (IEEJ Transactions on Power and Energy)
巻： 130  号： 5  ページ： 510-516 (J-STAGE)  発行年： 2010年 
JST資料番号： S0809A  ISSN： 0385-4213  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 瞬時電圧低下に対する電磁接触器の感度を実験とシミュレーションにより調べた。瞬時電圧低下の初期点で系統電圧の位相角を制御する半導体故障スイッチ付きの実験回路を開発した。この位相角は瞬時電圧低下に対する新しいパラメータである。この接触器の動作特性を各種の条件下で評価した。小さい瞬時電圧低下は大きい瞬時電圧低下に比較して接触器の高速トリップを引き起こす場合があることが分かった。この現象の理由をシミュレーションで解析した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *電磁接触器 ,  *電圧降下 ,  シミュレーション ,  *位相制御 ,  感度解析 ,  トライアック ,  *制御回路 ,  インダクタ ,  インダクタンス ,  モデリング
準シソーラス用語： 位相角制御 ,  瞬時電圧降下

分類 (1件)： 開閉装置  (NB09030I)

引用文献 (3件)：

• IYODA, I. Surveillance on Power Quality of Factories and Office Building in Japan. International Conference Quality of Power and Standardization, Lohusalum ESTONIA (1996-6). 1996
• IEEJ Technical Survey Committee. Trend of Power Electronics Application to Power Quality Control. 2004, 13
• The Information Technology Industry Council (ITI). ITI (CBEMA) CURVE APPLICATION NOTE. http://www.itic.org/clientuploads/Oct2000Curve.pdf

タイトルに関連する用語 (3件)： 電磁接触器 ,  瞬時電圧低下 ,  パラメータ