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J-GLOBAL ID：201002230929663266   整理番号：10A0557833

フィールドプログラマブルゲートアレイにおける耐故障性と信頼性

Fault tolerance and reliability in field-programmable gate arrays

著者 (3件)： STOTT E. (Imperial Coll., London, GBR) ,  SEDCOLE P. (Imperial Coll., London, GBR) ,  CHEUNG P. (Imperial Coll., London, GBR)
資料名： IET Computers & Digital Techniques  (IET Computers & Digital Techniques)
巻： 4  号： 3  ページ： 196-210  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： H0155D  ISSN： 1751-8601  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プロセス技術のスケーリングが続き,集積回路は欠陥,プロセス変動,信頼性などの課題に直面している。フィールドプログラマブルゲートアレイ(FPGA)もこの例外ではなく,最近の研究によると,45nmを超えるFPGAでは耐故障性が必要になる。幸いにしてFPGAは再構成可能であるため,劣化故障は克服可能である。本論文は,FPGAを対象とした故障検出方法と耐故障性方式を,FPGAの信頼性と,素子劣化に起因する永続故障に対する現場での耐故障性に関連する研究を概観した。まずこの問題の背景として劣化の原因,劣化以外に影響を与える製造欠陥とSEU,故障モデル化,耐故障性の応用を概観した。次に故障検出方法,故障回復方法を述べ,将来の開発方向を予測した。

シソーラス用語： *FPGA ,  *フォールトトレランス ,  信頼性 ,  変動 ,  半導体プロセス ,  スケール則 ,  可能性 ,  劣化故障 ,  故障検出 ,  性質 ,  SEU【シングルイベント】 ,  モデル ,  技術展望 ,  障害回復
準シソーラス用語： プロセス変動 ,  再構成可能性 ,  永続性 ,  故障モデル

分類 (2件)： 信頼性  (KB04040H) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： フィールドプログラマブルゲートアレイ ,  耐故障性