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J-GLOBAL ID：201002230970414027   整理番号：10A0466907

X線構造解析の軌跡と未来 5 X線回折で見る分子ダイナミクス

著者 (1件)： 河野正規 (ポハン工科大)
資料名： 化学と工業  (Chemistry & Chemical Industry)
巻： 63  号： 5  ページ： 408-409  発行年： 2010年05月01日 
JST資料番号： F0107A  ISSN： 0022-7684  CODEN： KAKTAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 単結晶X線構造解析法は,強力な物質同定法として確固たる地位を築いてきた。今日では誰でもボタンを押すだけで測定・解析が容易にできるようになってきたためルーチンの分析手段としてみなされている。しかしながら,反応場(結晶場)の自己集積による精密設計と放射光を利用することで不安定な中間体などの動きがより一般的に観測できるようになってきた。X線構造解析の新たな可能性について紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *単結晶 ,  *X線回折 ,  *反応中間体 ,  *同定
準シソーラス用語： 不安定

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (4件)：

• KAWANO, M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8106
• KAWANO, M. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 6558
• KAWAMICHI, T. Nature. 2009, 461, 633
• KAWANO, M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 127, 15418

タイトルに関連する用語 (6件)： X線構造解析 ,  軌跡 ,  未来 ,  X線回折 ,  分子 ,  ダイナミクス