LEVEDER Tanguy について
CEA, LETI, Minatec, 17 rue des Martyrs, F38054 Grenoble Cedex 9, FRA について
LANDIS Stefan について
CEA, LETI, Minatec, 17 rue des Martyrs, F38054 Grenoble Cedex 9, FRA について
CHAIX Nicolas について
CEA, LETI, Minatec, 17 rue des Martyrs, F38054 Grenoble Cedex 9, FRA について
DAVOUST Laurent について
Microfluidics, Interfaces and Particles Group, CNRS-LEGI, BP53, 38041 Grenoble, FRA について
Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena について
高分子薄膜 について
粘度 について
パターン形成 について
計測 について
ポリスチレン について
リソグラフィー について
ケイ素 について
スピンコーティング について
焼なまし について
トポグラフィー【形態】 について
キャラクタリゼーション について
形状効果 について
アスペクト比 について
緩和現象 について
動力学 について
顕微鏡観察 について
原子間力顕微鏡 について
空間分解能 について
ナノインプリントリソグラフィー について
ナノパターン形成 について
有機化合物の薄膜 について
高分子固体の力学的性質 について
固体デバイス製造技術一般 について
ナノパターン形成 について
ポリマ薄膜 について
粘度測定 について