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J-GLOBAL ID：201002236946451521   整理番号：10A0944475

アンチゴライト格子優先配向(LPO)の電子後方散乱回折(EBSD)測定

Electron back-scattering diffraction (EBSD) measurements of antigorite lattice-preferred orientations (LPO)

著者 (4件)： VAN DE MOORTELE B. (Univ. Lyon, Lyon, FRA) ,  BEZACIER L. (Univ. Lyon, Lyon, FRA) ,  TRULLENQUE G. (Oxford Instruments GmbH, Wiesbaden, DEU) ,  REYNARD B. (Univ. Lyon, Lyon, FRA)
資料名： Journal of Microscopy  (Journal of Microscopy)
巻： 239  号： 3  ページ： 245-248  発行年： 2010年09月 
JST資料番号： B0454B  ISSN： 0022-2720  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 蛇紋石の格子優先配向は蛇紋石含有岩石のいろいろの強異方特性を引き起こす。格子優先配向は今までX線回折法によってのみ得られてきた。我々は電子後方散乱回折を自然変形高圧蛇紋岩中のアンチゴライトの格子優先配向の測定に適用した。この手法では蛇紋石の場合表面非晶化を誘導することができ試料調製は非常に微妙である。いろいろの圧力の走査電子顕微鏡における最適条件下で非晶化を避けそして正確な電子後方散乱回折測定を可能にする研磨技術を記載した。結果は変形が層状珪酸塩で期待されるように,面構造に垂直な極度に強いc軸集団を特徴とする優先配向を誘導することを指示する。面構造の平面ではa軸の顕著な集団が観察されそして結晶内変形に帰すると仮に考えられる。これらのデータはアンチゴライトは大部分層状フィロ珪酸塩構造の底面に沿う滑りによって変形することを示唆する,しかし滑りはa軸配列に好適な方向に沿って起こると言っても差し支えない。電子後方散乱回折は変形岩石中のフィロ珪酸塩の格子優先配向を決定するのに信頼できる方法のように見える。そして地震波速度あるいは熱及び電気伝導度のような性質の異方性を決定するのに適用できる可能性をもっている。

シソーラス用語： *蛇紋石 ,  異方性 ,  変形 ,  *電子回折 ,  優先配向
準シソーラス用語： アンチゴライト ,  格子優先配向

分類 (1件)： 珪酸塩鉱物  (DE08030A)

タイトルに関連する用語 (5件)： アンチゴライト ,  格子 ,  優先配向 ,  電子後方散乱回折 ,  EBSD