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J-GLOBAL ID：201002237921376432   整理番号：10A0252926

高温での相転移中におけるSc-O/W(100)系の表面原子配列における変化のその場観察

In situ observation of change in surface atomic arrangement of Sc-O/W(100) system during phase transition at high temperature

著者 (3件)： NAGATOMI T. (Dep. of Material and Life Sci., Graduate School of Engineering, Osaka Univ., Suita, Osaka 565-0871, JPN) ,  NAKANISHI Y. (Dep. of Material and Life Sci., Graduate School of Engineering, Osaka Univ., Suita, Osaka 565-0871, JPN) ,  TAKAI Y. (Dep. of Material and Life Sci., Graduate School of Engineering, Osaka Univ., Suita, Osaka 565-0871, JPN)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films  (Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films)
巻： 28  号： 2  ページ： 199  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： C0789B  ISSN： 0734-2101  CODEN： JVTAD6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高温でのSc-O/W(100)表面の相転移中における低速電子回折(LEED)パターンのその場観察を行い,相転移中における表面原子配列,表面原子被覆率,及び仕事関数間の相関を研究した。この目的のために,1500~1900Kの高温におけるLEED観察を可能にするLEEDシステムを開発した。回折スポットの強度の温度依存性を測定し,Debye温度を関係表面に関して推定した。相転移中における回折スポットの強度の変化が,表面原子の被覆率及び仕事関数と相関していることが分かった。現在の結果は,表面偏析,酸化,酸素脱離,ScO複合体の拡散のような表面現象が,Sc-O/W(100)系の表面特性を支配していることを明らかにした。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *スカンジウム ,  *酸素 ,  *複合体 ,  *タングステン ,  基板 ,  仕事関数 ,  *相転移 ,  その場観察 ,  高温 ,  低速電子回折 ,  酸化スカンジウム ,  *吸着 ,  被覆率 ,  表面拡散
準シソーラス用語： 回折パターン ,  原子配列

分類 (3件)： 物理的手法を用いた吸着の研究  (CB12043P) ,  金属の表面構造  (BK15020P) ,  相転移・臨界現象一般  (BL04010V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 相転移 ,  Sc ,  系 ,  原子配列 ,  その場観察