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J-GLOBAL ID：201002240922810749   整理番号：10A0937228

宇宙向け商業用の65nmCMOS技術:重イオン,陽子およびγ線試験結果とモデリング

A Commercial 65nm CMOS Technology for Space Applications: Heavy Ion, Proton and Gamma Test Results and Modeling

著者 (7件)： ROCHE Philippe (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  GASIOT Gilles (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  UZNANSKI Slawosz (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  DAVEAU Jean-Marc (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  TORRAS-FLAQUER Josep (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  CLERC Sylvain (STMicroelectronics, Crolles, FRA) ,  HARBOE-SORENSEN Reno (European Space Agency, Noordwijk, NLD)
資料名： IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 57  号： 4,Pt.1  ページ： 2079-2088  発行年： 2010年08月 
JST資料番号： C0235A  ISSN： 0018-9499  CODEN： IETNAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *半導体集積回路 ,  *電子回路 ,  *重イオン照射 ,  *陽子照射 ,  *γ線照射 ,  *モデリング ,  *照射試験
準シソーラス用語： *CMOS集積回路

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (7件)： 宇宙 ,  商業 ,  重イオン ,  陽子 ,  γ線 ,  試験 ,  モデリング