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J-GLOBAL ID:201002241046717627   整理番号:10A0127866

ナノ多層Zr-O/Al-O薄膜の陰極アークプラズマ蒸着

Cathodic arc plasma deposition of nano-multilayered Zr-O/Al-O thin films
著者 (5件):
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巻: 204  号: 11  ページ: 1697-1701  発行年: 2010年02月25日 
JST資料番号: D0205C  ISSN: 0257-8972  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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陰極アークプラズマ析出システムで,ZrとAl陰極を使用して,Zr-O/Al-Oの薄膜をSKD11工具鋼基板に析出した。基材を回転ホルダーに取り付け,2つの陰極からのプラズマに交互に曝露した。ZrとAlの陰極アーク電流と基板バイアスが,膜の機械的性質と構造的な性質に及ぼす影響を調査した。AlリッチとZrリッチのナノ層状構造が交互にある膜が得られた。Zr層は(101)配向のt-ZrO構造のナノ結晶子を含んでいた。α-Al2O3構造の結晶子は,基材に100~150Vの範囲で負にバイアスした時にのみ観察された。膜の硬度は,Zr陰極電流を60から80Aまでの増加すると減少し,Al陰極電流を25~30Aに増加したときには増加した。Al陰極電流を30から35Aに増加したときには,硬度は減少した。膜の硬度は,-150Vまではバイアス電圧を増加するに従って増加し,負のバイアスを更に増加すると減少した。膜の構造をHRTEM顕微鏡で解明した。残留応力と膜の硬度向上との間には良い相関関係が観測された。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (1件):
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金属材料へのセラミック被覆 

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