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J-GLOBAL ID：201002241465232757   整理番号：10A1078247

高効率波長分散PIXE分析のためのレーザ位置センサに基づくターゲット測位システムの開発

DEVELOPMENT OF A TARGET POSITIONING SYSTEM BASED ON A LASER POSITION SENSOR FOR HIGH-EFFICIENCY WAVELENGTH-DISPERSIVE PIXE ANALYSIS

著者 (5件)： WONGLEE S. (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  TADA T. (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  FUKUDA H. (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  HASEGAWA J. (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN) ,  OGURI Y. (Tokyo Inst. Technol., Tokyo, JPN)
資料名： International Journal of PIXE  (International Journal of PIXE)
巻： 20  号： 1/2  ページ： 1-9  発行年： 2010年 
JST資料番号： W0273A  ISSN： 0129-0835  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： シンガポール (SGP)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高効率の波長分散PIXE分析に適したレーザ位置センサに基づく精密なターゲット測位システムを開発した。波長分散PIXE系におけるターゲットの測位は新規に取付けたレーザ位置センサを利用することで0.5mm以内の正確さを達成した。塩化ナトリウムと塩化アンモニウムの識別に利用できるX線スリットの最大幅は2mmであった。塩素のKβ-X線測定からビーム軸に沿ったターゲット測位の正確さは1mmの試料に対して約0.5mmであり,ターゲット測位系はこの要求を満足するものであった。提案した精密なターゲットの測位系は少量元素の化学スペシエーションに対する波長分散PIXE系の高いX線検出効率を得るのにきわめて効果的であった。

シソーラス用語： *PIXE分析 ,  *位置決め ,  *位置センサ ,  *レーザ応用 ,  ターゲット ,  レーザビーム ,  分散【dispersion】 ,  光学器械 ,  光学スリット ,  精度 ,  塩化ナトリウム ,  塩化アンモニウム ,  多元素分析 ,  状態分析 ,  X線検出 ,  検出効率 ,  X線スペクトル
準シソーラス用語： スリット【光学】 ,  波長分散

分類 (3件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  レーザの応用  (BD04100V)

引用文献 (6件)：

• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa, Y. Oguri and M. Tsuji, Chemical speciation of sulfur in activated carbon by wavelength-dispersive PIXE technique, X-Ray Spectrom. 38 (2009) 239-243.
• T. Tada, H. Fukuda, J. Hasegawa and Y. Oguri, Application of a wavelength-dispersive particle-induced X-ray emission system to chemical speciation of phosphorus and sulfur in lake sediment samples, Spectrochim. Acta, Part B 65 (2010) 46-50.
• T. Tada, M. Hayashi, H. Fukuda, J. Hasegawa and Y. Oguri, Chemical shift measurements of chlorine K X-ray spectra using a high-resolution PIXE system, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. B 266 (2008) 2292-2295.
• KEYENCE CORPORATION, Non-contact Measuring Instruments, Introduction guide 2 (2008).
• J. Hasegawa, T. Tada, Y. Oguri, M. Hayashi, T. Toriyama, T. Kawabata and K. Masai, Development of a high-efficiency high-resolution particle-induced X-ray emission system for chemical state analysis of environmental samples, Rev. Sci. Instrum. 78 (2007) 073105-1-6.

タイトルに関連する用語 (8件)： 高効率 ,  波長分散 ,  PIXE分析 ,  レーザ ,  位置センサ ,  ターゲット ,  測位システム ,  開発