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J-GLOBAL ID:201002241936010687   整理番号:10A0659169

位相測定に基づく形状測定におけるπ-シフト奇数ステップフリンジ投影とスペックルフィルタリングによる位相誤差補正

Phase error correction by π-shift odd-step fringe projection and speckle filtering in phase measuring profilometry
著者 (4件):
資料名:
巻: 49  号:ページ: 043603.1-043603.6  発行年: 2010年04月 
JST資料番号: B0577B  ISSN: 0091-3286  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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位相測定に基づく形状測定の基本原理と位相誤差の主要な原因を明らかにした。次に,投影機のγ非線形性により生じる位相誤差をπ-シフト奇数ステップフリンジ投影アルゴリズムで補正し,正弦-余弦メジアンフィルタを用いてスペックル雑音を除去する方法を理論的に解析した。計算機シミュレーションによる3ステップ,π-シフト3ステップおよびπ-シフト5ステップのフリンジ投影の場合のrms位相誤差は,それぞれ0.078,0.057および0.015であった。3ステップ,π-シフト3ステップおよび正弦-余弦メジアンフィルタ付きπ-シフト5ステップフリンジ投影による複雑な花パターンの再構成の実験では,メジアンフィルタ付きの場合に形状の微細な特徴までを正確に把握できた。
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
その他の光学的測定法とその装置  ,  光学情報処理 

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