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J-GLOBAL ID：201002242987820043   整理番号：10A0754130

一軸性張力下でIBAD基板に重ね接合コーティングされた導体テープの臨界電流低減挙動

Critical Current Degradation Behavior in Lap-Jointed Coated Conductor Tapes With IBAD Substrate Under Uniaxial Tension

著者 (3件)： SHIN Hyung-Seop (Andong National Univ., Kyungbuk, KOR) ,  DEDICATORIA Marlon J. (Andong National Univ., Kyungbuk, KOR) ,  OH Sang-Soo (Korea Electrotechnology Res. Inst., Kyungnam, KOR)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 20  号： 3  ページ： 1447-1450  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (8件)： 一軸性 ,  張力 ,  IBAD ,  コーティング ,  導体 ,  テープ ,  臨界電流 ,  挙動