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J-GLOBAL ID:201002242994181110   整理番号:10A0843458

薄膜キャパシタの可変性に及ぼす金属/ペロブスカイト型酸化物界面の影響

The influence of metal/perovskite-type oxide interfaces on tunability of thin film capacitors
著者 (4件):
資料名:
巻: 118  号: 1380  ページ: 664-668 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: F0382A  ISSN: 1882-0743  CODEN: JCSJEW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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ペロブスカイト型酸化物を有する金属/絶縁体/金属型薄膜のキャパシタンス-電圧特性に及ぼす界面の影響を予測できる計算モデルを提案した。上部電極がPt,Au,Agのチタン酸バリウムストロンチウム薄膜キャパシタのキャパシタンス-電圧測定結果を記述するシミュレーションに成功した。可変性の電極依存性は電極金属の仕事関数に由来することを見出した。シミュレーションモデルは,金属/ペロブスカイト型酸化物接合の誘電特性を説明するために適用したSchottkyモデルに基づいた。この改良Schottkyモデルでは,誘電率の電場依存性とペロブスカイト型酸化物のバンドギャップに位置する金属から欠陥状態への電子の逆流を考慮した。この流れは界面において負の荷電空間を形成し,薄膜キャパシタの電気的性質に影響を与えた。(翻訳著者抄録)
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