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J-GLOBAL ID:201002246979443171   整理番号:10A1065714

ウエハ接合とテクスチャー構造表面により被覆した電極を用いた薄膜GaN系発光ダイオードの光抽出に関する研究

Light Extraction Study on Thin-Film GaN Light-Emitting Diodes With Electrodes Covering by Wafer Bonding and Textured Surfaces
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巻: 57  号: 10  ページ: 2651-2654  発行年: 2010年10月 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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櫛形埋込み電極(IIE),高反射ミラーおよびp-GaNと無ドープGaN層上の両側粗面化を用いた,テクスチャー構造n-GaN上側層型薄膜GaN系発光ダイオード(LED)の光抽出特性について調べた。IIE構造により,電極遮光効果を除くことができた。有機金属化学気相成長(MOCVD)により,その素子のGaNエピタキシャル層を(0001)サファイア基板上に成長した後,ウエハ接合,レーザリフトオフと化学的乾式/湿式エッチング方法を用いて,LED素子を作製した。n-GaN上側層型構造は,光吸収を回避し,光効率を向上するのに有用であることがわかった。電極遮光損失のないGaN/InGaN2重ヘテロ接合型LEDは,従来構造より160%高強度である,ルミナンス強度の改善(350mA注入電流で)を実現した。対称的に,p-GaN上側層型膠接合LED(GB-LED)は,n-GaN上側層型より劣るが,従来構造より120%のみ高強度であった。このことから,光効率の改善は,光抽出および表面テクスチャー構造,高反射ミラー反射体と埋込み電極構造に起因することがわかった。
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発光素子 
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