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J-GLOBAL ID：201002251503898573   整理番号：10A1151584

Cエレメントのソフトエラー防止可能な65nm双安定クロスカップルデュアルモジュラー冗長フリップフロップ

A 65nm Bistable Cross-coupled Dual Modular Redundancy Flip-Flop Capable of Protecting Soft Errors on the C-element

著者 (5件)： FURUTA Jun (Kyoto Univ.) ,  HAMANAKA Chikara (Kyoto Inst. Technol.) ,  KOBAYASHI Kazutoshi (Kyoto Inst. Technol.) ,  ONODERA Hidetoshi (Kyoto Univ.) ,  ONODERA Hidetoshi (JST-CREST, JPN)
資料名： Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits  (Digest of Technical Papers. Symposium on VLSI Circuits)
巻： 2010  ページ： 99-100  発行年： 2010年 
JST資料番号： W0767A  ISSN： 2158-5601  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： α線や中性子からFFを保護する冗長フリップフロップ構造としてTMR,DICE,BISERなどが提案されている。しかし,これらはCエレメントに入射する粒子で生じるSET(Single Event Transient)パルスに対応できない。本稿は双安定クロスカップルデュアルモジュラー冗長フリップフロップ(BCDMR-FF)と称する修正DMRフリップフロップを提案する。それはクロスカップルCエレメントと,入射粒子による不必要なフリップを防ぐキーパーを含んでいる。BCDMRとBISER構造で65nmプロセスを使って60480ビットシフトレジスタを製作した。,クロック周波数160MHzのとき,BCDMRのα線ソフトエラー耐性はBISFRの150倍に強化されている。

シソーラス用語： *ソフトエラー ,  *双安定回路 ,  冗長性 ,  α粒子ビーム ,  *半導体集積回路 ,  半導体プロセス
準シソーラス用語： CMOSプロセス ,  フリップフロップ

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： エレメント ,  ソフトエラー ,  双安定 ,  冗長 ,  フリップフロップ