文献

J-GLOBAL ID：201002260521405656   整理番号：10A0838881

光干渉計測最新動向 偏光解析と干渉計測

著者 (1件)： 大谷幸利 (宇都宮大)
資料名： Optronics  (Optronics)
号： 344  ページ： 111-116  発行年： 2010年08月10日 
JST資料番号： Y0019A  ISSN： 0286-9659  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年の光学技術の高度化とともに複屈折を中心に広がっている偏光計測法について,偏光解析を干渉計測のアナロジーから検討した。位相シフト法は2次元分布計測に効果を発揮している。これに対し偏光計測は求めたいパラメータが複屈折だけでなく,施光性,二色性,円二色性や偏光解消と多岐にわたることから,フーリエ変換法で位相,周波数,振幅をフルに利用することで必要なデータを求めることが有効である。偏光干渉計測で重要なフーリエ変換法は,位相シフト以上に強力なツールである。ここでは複数の周波数成分と振幅から偏光情報を求めるストークス偏光計を紹介した。また,干渉計測において波長チューニング法が使われているのと同様に分光偏光(波長変調)を用いることによって複屈折の波長依存性がワンショットで求めることができる。

シソーラス用語： *光干渉法 ,  *偏光解析法 ,  干渉測定 ,  *干渉縞 ,  位相変調 ,  光変調素子 ,  複屈折 ,  屈折率分布 ,  位相シフト ,  Stokesパラメータ ,  Fourier解析 ,  有機材料 ,  ELディスプレイ

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光干渉 ,  計測 ,  最新動向 ,  偏光解析 ,  干渉計測