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J-GLOBAL ID：201002261792565647   整理番号：10A1038240

高分解能3次元蛍光X線分析装置の開発と鑑識試料の非破壊深さ分析

著者 (6件)： 中澤隆 (大阪市大 大学院) ,  西ちひろ (大阪市大 大学院) ,  中野和彦 (大阪市大 大学院) ,  辻幸一 (大阪市大 大学院) ,  西脇芳典 (兵庫県警 科学捜査研) ,  大槻和徳 (兵庫県警 科学捜査研)
資料名： 日本分析化学会年会講演要旨集  (分析化学講演要旨集)
巻： 59th  ページ： 379  発行年： 2010年09月01日 
JST資料番号： G0563B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 高分解能 ,  *三次元測定 ,  *蛍光X線分析 ,  焦点 ,  Si半導体検出器 ,  深さ分析 ,  非破壊分析 ,  *塗膜 ,  鑑別 ,  *自動車 ,  *分析機器 ,  社会科学 ,  分布 ,  共焦点 ,  元素分布
準シソーラス用語： 鑑識 ,  法科学

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  有機物質中の元素の物理分析  (CC03032S)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高分解能 ,  3次元 ,  蛍光X線分析装置 ,  開発 ,  鑑識 ,  試料 ,  深さ分析